Raman

拉曼技术

  • RamanPrinciple
  • 拉曼效应是基于光与物质内化学键或晶格之间的相互作用。由于化学键/晶格振动与光子的相互作用发生非弹性散射,导致激发光能量损失或增加,即为拉曼位移和拉曼光谱。每种化学成分的拉曼光谱都是独一无二的,被称为分子的指纹信息,通过拉曼光谱可对材料进行定性和定量研究分析。

    拉曼光谱

    • 提供材料的分子“指纹信息”

    • 非侵入性、非破坏性

    • 无需特殊样品处理

    • 对水不敏感,可在水溶液中直接测试

    • 可用于拉曼成像

共聚焦拉曼成像

    • WTC RAMAN 504x257
    • 共聚焦拉曼显微方法是高分辨率拉曼成像技术,可广泛用于材料化学成分的表征与分析。固体和液体成分的化学信息可实现衍射受限的空间分辨,即分辨率为激发波长的一半,低至 200 nm。无需任何标记或特殊样品制备技术。拉曼图像可以获得样品内所含的化学化合物及其空间分布信息。

      WITec 拉曼显微镜与成像系统将极其灵敏的共聚焦显微镜与超高光通量光谱系统进行结合,实现了空前的化学灵敏度,且具备高速度、高灵敏度和高分辨率三者同时实现的出色性能。

3D 拉曼成像和深度剖析

  • 3D 空间扫描和深度剖析在分析物体空间尺寸或整个样品特定化合物分布时非常有用。

    WITec 共聚焦显微镜系统具有最佳的共聚焦性, 衍射极限的纵向分辨率,且大大减少了的背景信号,非常有助于深度剖析并生成 3D 图像。 同时具有出色的光谱和空间分辨率。通过点激光的逐点扫描记录所有像素上的完整光谱,并生成深度剖析或 3D 拉曼图像。

  • WITec 3DRaman FluidInclusion
  • WITec Raman DepthProfile
  • WITec 3DRaman Emulsion

超快拉曼成像

  • RealTimeUltrafastRaman
  • 通过超快拉曼成像,可在几分钟内采集完整的拉曼图像。换言之,单个拉曼光谱的采集时间可以低至 760 微秒,每秒钟可采集 1300 拉曼光谱。

    最新EMCCD光谱探测器与高通量光学共聚焦拉曼成像系统的结合是超快拉曼成像提升的关键,同时极短测量时间及较低激光功率的测量条件非常有利于易损敏感或贵重样品(如活体)的拉曼光谱及成像测量。快速动态过程的拉曼时间分辨也可因超快的光谱采集速度而受益。

    优势:

    • 总实验时间减少,同时在给定时间内提供更多有价值的数据,从而降低使用成本。
    • 可实现对测量时间有严格要求的标准拉曼成像。
    • 非常适合对要求激发功率极低的易损敏感或贵重样品的拉曼分析。
    • 时间分辨拉曼测量,可允许快速动态过程的研究(时间序列光谱或图像)。

WITec 提供的基于拉曼联用分析技术

  • WITec 系统的模块化设计可将不同的成像技术融于一台仪器中,如拉曼成像、荧光、明暗场照明、原子力显微镜 (AFM) 以及近场光学显微镜(SNOM 或 NSOM),从而进行更全面的样品分析。通过旋转物镜轮塔,可在不同模式之间轻松切换。

  • 拉曼和 AFM

    通过将共聚焦拉曼成像与 AFM 结合,可以很容易地将样品的化学性质与表面形貌结构对应起来。WITec推出的拉曼-AFM联用显微镜通过这两种互补技术,可以实现灵活、全面的样品表征与分析。

  • WITec Raman AFM polymer blend cleavage
  • 拉曼和 SNOM

    拉曼光谱分析技术与 SNOM的联用,实现超越衍射极限的光学与拉曼成像, 提供更全面的材料信息,使得突破或攻克最前沿的科学实验成为可能。

    拉曼和 SEM

    拉曼-SEM 结合是全新的联用显微镜技术。SEM 获得纳米级超高分辨率的样品形貌图像可以与同一样品区的化学拉曼成像一一对应起来。

超衍射极限的高分辨拉曼成像

  • WITec 共聚焦拉曼成像系统的空间分辨率为横向低至 200 nm,纵向 780 nm。随着纳米科技的发展,某些特殊应用要求拉曼信息的分辨率低于衍射极限 (< 200 nm), 这是目前共聚焦空间分辨率无法满足的。然而WITec 显微镜系统非常适合于上述目的,因为它们能够将多种显微镜技术融于一台显微镜装置中,从而克服光学衍射极限。

  • Nearfield Raman WorkingPrinciple
  • 近场拉曼成像

    近场拉曼成像是将化学拉曼信息与高分辨率扫描近场光学显微镜 (SNOM) 结合在一起的出色的显微镜技术。近场拉曼可以采集完整的近场拉曼图像,通常情况下,可实现低于 100 nm 的横向分辨率。

    WITec 拉曼-SNOM 显微镜将高光通量光谱系统与高效的悬臂式 SNOM 技术联合起来,在单个显微镜同时实现无与伦比的灵敏度与超高分辨率的成像质量。

    原理

    激发激光通过 SNOM 针尖聚焦,在孔的附近产生“近场”(消逝场)。当样品非常靠近探针时,通过样品台逐点逐行扫描来探测透射拉曼光谱,以生成高光谱图像。透射光的空间分辨率仅受探针孔径的限制,可达到< 100 nm的近场光学分辨率。采用与 AFM 接触模式相同的稳定激光反馈系统,可以确保悬臂始终与样品接触,同时该测量过程中样品表面的形貌形貌会同步记录下来。

WITec 拉曼成像系统

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